Opis:

Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

Charakterystyka:

 Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: < 50V DC
prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C